锥光镜鉴定晶体光学性质

发布时间:2018-06-23 11:21:30 文章分类： 点击数：

锥光镜鉴定晶体光学性质

 

我们在使用偏光显微镜，则是利用显微镜的偏光振动性

质进行鉴别晶体物质的各向异性或是各向同性。

 

这主要则表现为物质的单折射率与双折射率上面，而对

于锥光镜鉴定晶体光学性质，则主要是鉴定晶体的轴性

与兴性以及切片的类型与光轴角等。

 

因此对于锥光镜鉴定晶体光学性质除了对晶体平行光轴

切片的一轴晶晶体和二轴晶晶体的一个干涉图像的不同

之处。

 

而对于这种不同则是在于对干涉图像的不同，这样我们

就可以对其进行区分光正负之分，或是对光性的中光率

分布形式。