显微观察时二轴晶体物质的干涉图

发布时间:2020-04-14 09:47:37 文章分类： 点击数：

显微观察时二轴晶体物质的干涉图

 

对于晶体物质的检测时所需要使用的偏光显微镜，则主

要是检测出晶体物质中的二轴晶光的率体与一轴晶的对

比。

 

这时我们在使用显微镜进行光轴切片干涉时的二轴晶体

物质的干涉图，则可以有几种类型的形式进行的二轴晶

干涉图。

 

我们可以分别分二轴晶体物质的干涉图为垂直锐角等分

线切片二轴晶体物质的干涉图与垂直钝角等争线切片二

轴晶体物质的干涉图。

 

同时还有垂直一个光轴切片的二轴晶体物质的干涉图与

斜交光轴切片二轴晶体物质的干涉图与平行光轴面切片

的二轴晶体物质的干涉图几种。