偏光显微检测时的晶体接触

发布时间:2020-04-18 10:55:32 文章分类： 点击数：

偏光显微检测时的晶体接触

 

通常我们在使用偏光显微镜进行显微检测研究分析时，

则主要是根据两个晶体物质之间倾斜接触进行的。

 

在进行接触晶体之产间折射率大的面会比折射率小的晶

体之上，不会因为接触面的平行光照射到接触面从而进

入到介质当中。

 

因此两个相邻的倾斜晶体物质接触面，则是概括了晶体

检测表面上的突起与晶体单光偏振检测晶体表面时发现

晶体的表面是光滑的。

 

而在这种情况下作偏光显微检测的晶体物质，则是表面

显得比较粗糙的呈现麻点的粗糙表面晶质。