15JE数显测量显微镜

产品型号:15JE

产品细节及拍摄效果图

115JE数显测量显微镜特点和应用方向

数显测量显微镜15JE可直接读出测量结果，结构简单，操作方便，使用范围极广，主要用途如下：①直角坐标中测定长度，例如测定孔径、基面距离、刻线宽度、键槽宽度、狭缝宽度、瞳孔外圆直径等。②转动度盘测定角度，例如对刻度盘，样板、量规、钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。③用作观察显微镜，以比较法检查工作表面光洁度，签定冶金工业的矿石标本。检定印刷照相制版，检验纺织纤维等。总放大倍数：25X-100X
标签：显微镜|测量显微镜|数显测量显微镜|数显测量显微镜15JE

215JE数显测量显微镜产品参数

1	光学系统规格	目镜	10X 带十字尺焦距：25.00mm
		物镜	2.5X/0.08 焦距：43.40mm		10X/0.25 焦距：17.13mm
		显微镜放大倍数	25X		100X
		工作距离	58.84mm		7.81mm
		视场直径	5.60mm		1.40mm
2	测量工作台读数装置主要规格	X轴移动测量范围		50.00mm
		Y轴移动测量范围		13.00mm
		测微器分度值		0.01mm
		测量台转动范围		不限
		测量台刻度盘分度范围		0º ～ 360º
		测量台刻度盘之分度值		1 º
		测量台刻度盘游读数示值		6′
3	测量精度	仪器示值误差		±（5+L/15）微米 L—被测件长度(mm)
		仪器示值误差		包括测量误差与仪器系统误差
		环境温度变化		(20 ± 3) ºC
4	仪器主要尺寸及重量	测量台与物镜间最大距离		80mm
		测量工作台直径		120mm
		仪器外形尺寸		325 × 262 × 220 （mm）
		包装尺寸		375×285×250（mm）
		仪器重量		10.5kg