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本文标题："薄膜厚度的检测光敏显微镜测试聚合物性能"

 薄膜厚度的检测光敏显微镜测试聚合物性能

 
    薄膜的厚度是对光敏聚合物的性能检测，
作为全息记录材料在开发应用程序的
全息光聚合物，
 
    如今一个重要问题是在薄膜厚度对记录
性能的影响。现在它能够创建这些样品具
有更广泛的范围内的厚度比以前更可用。
 
    我们利用这些最新进展在光聚合物中的
显微镜系统评价了如何进行光聚合物
的动态范围，
 
    这取决于其厚度。结果表明其样品的性
能线性增加了厚度为预测的全息技术，
 
    然而，标准的模型是高于临界厚度的样
品性能下降，并记录了平面波全息图的角
度响应显示的光栅曲率的证据。
 
    这些畸变光可能导致聚合物的收缩，在
更厚的样品中发生不均匀的方式结果。
 
    这个问题限制了这些光聚合物的性能，
并很可能是一个问题，即发生的可比聚
合物收缩效果比任何光敏聚合物好。

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