产品分类
本文标题："X射线与相衬显微镜和显微断层之间的联系"
X射线与相衬显微镜和显微断层之间的联系
一般在同轴的相衬情况下使得可以能够吸收较
弱的标本将与X射线成功的进行成像，
并大大提高了精细尺度结构中更强烈地吸收情
况，包括了试样的可见性。
这种类型的相差需要一个空间的相干光束，这
可以由微焦点X射线的光源得到满足的条件。
如今我们已经开发了一种新的X射线显微镜，就
是根据这样的电源，使其能够进行高度的解析，
相位对比的成像和显微镜的成像。相位的恢复使
用了量化信息，这可以从已知的组合物和密度的均
匀的样品，
相差显微镜中的图像是可以回收的，而且可以提
高断层结构的重建质量。
后一篇文章：从客观主义的角度上分析显微镜的历史 »
前一篇文章：« 研磨和抛光之间的必然联系--显微镜试样要求
tags:相衬显微镜,工具显微镜,测量显微镜,
X射线与相衬显微镜和显微断层之间的联系,工具显微镜,测量显微镜现货供应
本页地址：http://www.xwjol.com/wz/1058.html转载注明
本站地址：http://www.xwjol.com/