薄片试样的正确磨制方法--显微镜下岩石矿物薄片
后一篇文章:光谱显微镜中的衍射光谱不同效果关乎衍射角度 »
前一篇文章:« 单偏光镜检测矿物晶体形态--偏光显微镜的配置
tags:岩石,矿物,薄片,工具显微镜,测量显微镜,
本页地址:http://www.xwjol.com/wz/1112.html转载注明
本站地址:http://www.xwjol.com/
版权申明:Copyright2012- 2015 禁止拷贝复制本站的文字和图片,本站所有版权由上海光学仪器一厂所有-
测量显微镜-上海光学仪器一厂-本站地址http://www.xwjol.com