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本文标题："成像系统中扩增噪声的发生"
成像系统中扩增噪声的发生扩增噪声的发生，增益寄存器EMCCDs往往是所表示的量称为噪声因数。对于低光成像系统引入的噪声的乘法过程中或增益，可以是一个重要的性能参数。
电子倍增过程放大弱信号高于本底噪声能够检测单光子的事件，在某些情况下，所产生的信号比较低。被放大信号的任何过程，在这过程中，噪声叠加的信号也被放大。由于这个原因，重要的是冷却EMCCDs，减少暗电流和其相关的散粒噪声。
任何时候，我们进行量化光子或光电事件都有内在的不确定性，这是由于光的量子性质的测量。光子的吸收是一种量子力学事件，因而吸收的光子数根据泊松的分布而变化。
一个特定的像素所吸收的光子的数量，确定了准确度是从根本上抑制这种固有的统计误差。这种不确定性被称为泊松，统计或散粒噪声，并且由下式给出的信号或检测到的光电子数的平方根。在低光荧光应用中，最亮像素的平均值可能会低于16个光子。
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