本文标题："结构照明显微镜：人工制品的分析和减少利用的参数优化方法"

结构照明显微镜：人工制品的分析和减少利用的参数优化方法

结构照明显微镜（SIM）的实际应用中经常遭受各种文物，结果不精确的仪器硬件和一定的漂白性能试样。

这些人工制品，可以观察到剩余的条纹图案源自照明光栅。我们调查了一些显着的原因，这些文物，并开发出一种校正方法，可以应用到收购后的图像。

文物大部分可以归因于在采集过程中的照明和探测的强度变化。提出的修正算法已被证明是在嘈杂的图像数据的功能，并产生特殊的人工的结果，在日常的实验室工作。

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