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本文标题："批量的暗电流可以保持到非常低的水平吗？金相显微镜检测范围"
批量的暗电流可以保持到非常低的水平吗？金相显微镜检测范围CCD的阵列时钟偏置发生的变化到负的状态，
翻转该信号承载信道，引起的少数载流子（空穴）的迁移和填充硅-二氧化硅界面。
在此定时方案中，也被称为定时，反型层中孔的表面和像素之间形成，
以及结合表面态发射的电子，防止它们被收集的暗电流以及积累模式。
倒立状态下运行许多CCD性能的参数上有一个明显的效果，
金相显微镜可以看到虚拟表面暗电流的消除。
如上所述，批量的暗电流可以保持到非常低的水平，
并收集由像素井产生在内或附近像素的耗尽区。
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