本文标题："焦耳热效应在电动驱动的微流控芯片，显微镜的实验与数值模拟研究"

焦耳热效应在电动驱动的微流控芯片，显微镜的实验与数值模拟研究

利用全内反射荧光显微镜的实验与数值模拟研究，

大家提出了一种检测方案，分析附近的温度分布，

利用微流控芯片的温度，依赖性荧光染料通道壁。

先进的光学显微镜系统的全内反射荧光显微镜，

是用于测量电渗流的点，在电动驱动的微流体芯片上，通道壁的温度分布。

为了满足短距离的客观型TIRFM计划，

显微镜的盖玻片，其缝隙用于制造微流控芯片。

从全内反射萤光显微镜系统中，使用荧光激发深度的强度，

获得的信息使用TIRFM技术后容易施力的测量结果，

而使用常规的落射荧光显微镜，沟道深度的变化不敏感。

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