本文标题："CCD饱和度和开花的关系，显微镜图像的清晰度跟什么关系？"

CCD饱和度和开花的关系，显微镜图像的清晰度跟什么关系？

饱和度和开花相关的现象，发生在所有的电荷耦合器件（CCD）图像传感器的条件下，

有限的充电容量的单个光电二极管，或最大的CCD的电荷转移能力，

一旦达到出现饱，然后负责收集网站，积累额外的光发生的电荷溢出或开花，

相邻的设备与结构多余的电子，开花的现象出现一些潜在不良影响，

这些可能会反映在传感器的输出，

范围从白色图像条纹和错误的像素信号值，来完成上面的输出放大级的击穿，

最后显微镜产生一个暗的图像。

图像传感器的充电容量，可以由单个光电二极管的特性或CCD本身的限制，

并且被定义为最大的电荷量，所述图像传感器可以收集和传输，

同时仍保持其设计性能的规格。这种能力被称为限制饱和的充电水平，

达到此限制时，像素CCD被认为已经饱和。而且超过饱和水平的成果。

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