本文标题："岩石构造晶体颗粒形态分析，专业光学式偏光显微镜"

岩石构造晶体颗粒形态分析，专业光学式偏光显微镜

应用于矿石的观察与分析，

应用光学显微镜进行岩石组成和结构分析，应用费氏台开展晶体优选方位的测定，

进行岩组分析;分别应用电子探针、透射电子显微镜、扫描电子显微镜和EBSD进行微区成分、结构形貌、组构分析与研究工作。

根据需要，还可以进行微区成分分析、矿物年代学测试等更进一步的研究工作。

制备的步骤：

超薄片:对于细粒岩石，尤其是微米或纳米尺度颗粒的岩石，

普通薄片很难观察到颗粒单体的一些特点，因而致使颗粒形态、边界等都不能正常显示。

因此常常需要切制厚度低于0.007 mm的超薄片。

对于双折射率过高的矿物，如方解石，超薄片在偏光下显微镜观察效果最佳。

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