本文标题："几何光学散射限制推广一个粗略的导电表面，显微镜研究粗糙度仪"

几何光学散射限制推广一个粗略的导电表面，显微镜研究粗糙度仪

物理光学产生高频率的下，高斯光依赖于入射角的几何光学散射系数。

我们证明了无限边坡的方差，以及有限的频率和表面的几何光学极限的高斯形式推广到α稳定分布函数。

这一结果证明，采用渐近方法，可以解释为无限方差的随机变量，

概率论的中心极限定理有了细化。

该理论导致的表面高度的功率谱密度的一种有效截止。

后向散射是不敏感到高于此光谱的截止波数的表面成分，从

而消除了非物理的几何光学表面的依赖功能远小于入射场的波长。

我们认为的理想导体，是一维随机粗糙表面，在物理光学近似的后向散射系数。

复合或两个大型曲面模型，也来自作为一个长期稳定的分布在一系列的扩张。

与数值计算结果的比较表明，虽然保持了准确的相对低的表面粗糙度近似的参数值。

后一篇文章：巨细胞和小细胞通路对比的增益，生物显微镜检测各种细胞 »
前一篇文章：« 相关显微镜的信息检索情况，专业显微镜的系统设置

tags:几何,光学,散射,表面粗糙度,工具显微镜,测量显微镜,

几何光学散射限制推广一个粗略的导电表面，显微镜研究粗糙度仪,工具显微镜,测量显微镜现货供应

本页地址：http://www.xwjol.com/wz/740.html转载注明
本站地址：http://www.xwjol.com/

资讯中心：