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本文标题：" 光学双面薄膜渐变金属的检测，偏振显微镜的光学原理"

 光学双面薄膜渐变金属的检测，偏振显微镜的光学原理

 
   电介质复合层的纳米图案中我们报告了薄膜的线栅型偏振器，
   通过引入一种纳米图案化的梯度金属，电介质复合材料层的光学有双重特性的概念。
   复合层具有一个逐渐的多种多样组成的，深度的剖面显示出了吸收特性，
   光学双面薄膜的线栅型偏振器中具有渐变金属的检测。
   由于消除的金属和玻璃基板之间的光接口，而WGP的金属侧面给出了其反射的特性。
   空前的光学双面表现了薄膜的厚复合层和一个185纳米厚层，
   周期的直线图案显示明显低于15％，极低的反射率从吸收侧面会超过500nm，
   在550nm处的高偏振消光比中这是可以接受的，用作各种材料在显微镜的显示应用中，
   例如AMOLED显示器和液晶显示器的配置中就会运用这些特别的比较，而且其实验的结果可能会表现出最好的效果。

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