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本文标题：" 利用二次谐波产生分子取向的测量，分子显微镜的检测"

 利用二次谐波产生分子取向的测量，分子显微镜的检测

 
    关于二次谐波产生的自组装膜中分子取向的测量，
    我们提出的方法主要表现在自组装，需要对目层结构层中的分子进行考察，
   为了得到聚合物的多层膜的光学及时，二次谐波产生的测量实验进行了传输，
   使用飞秒的脉冲激光时，这允许了更精确了数据，而且还确定的二次谐波信号的振幅，
   通常存在于纳秒的实验没有干涉条纹。
   我们还发现在与基板接触的第一个双分子层中，提出了一种广泛分布的分子的取向，
   连续的双层膜中最多12个，而另外产生的分子顺序与一个小的倾斜角对应于表面的法线。
   这样的结果，连同了单调递增的二次谐波信号与层的数目表示的分子增长有序地组装。

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