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本文标题："相位显微镜的技术测量表现在试样的体积效应"
相位显微镜的技术测量表现在试样的体积效应
相位显微镜的技术测量需要利用体积效应的
方法，最近我们开发一种新的方法来提高粒子的
大小在激光相位多普勒测速精度。
该方法中的折射和反射光线矢量的总和是描
述双散射机理模型的非均匀照明，
测量时我们所要考虑的是在单散射机理的模
型，传统的移除受到了该约束。
作为一个结果的测量体积效应引起的误差，
它是在一个高斯束缺陷和狭缝的效果，而且
也是可以消除的。
这种新方法可以很容易地实现与传统的系统
有最小的修改。实验的结果在基础上的广义理
论进行的表明，
新的方法可以提供在一个良好的测量体积
效应的系统中。
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