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本文标题："纳米级分辨率的测量--精密显微镜的测量计算"

 纳米级分辨率的测量--精密显微镜的测量计算

 
    测量技术需要通过使用回音壁的模式，以
及利用光纤包层中直径的均匀性，
 
    其试样的直径变化是沿毫米到厘米长度
的过渡，纳米级的分辨率是在纳米
级纤维包层的直径测量，
 
    如果可以沿着毫米测量通过使用回音壁模
式，该纤维的弹性可以散射到厘米的长度。
 
    该纤维是在边侧上加上了波长可调的高斯
光束。散射显微镜的光进行的成像到光电
二极管的检测器。
 
    基于波长的变化是沿光纤到光纤包层的直径，
那么锥形上测量的尺度就从纳米到毫米的刻度。
 
    该纤维观测的表面粗糙度振幅，单位为纳米，
颗粒的粒度≈100微米，是沿厘米长度的纤维，
这也可以通过使用谐振技术揭示效果。
 

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