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本文标题："显微镜对被测标本高度或深度进行相应测量"
显微镜对被测标本高度或深度进行相应测量
根据HIROX显微镜的原理可以对其被测
物体高度或深度进行测量，一般采用两种
常用的Z方向的测量法，双重对焦法
和激光投影法。
在观察物体的倍数低的情况之下，我们
可以用MX-5030镜头和AD-5030SLS的激光适
配器。运用45度斜角让横向激光投
射到测量区域。
在高度不同的情况，这激光投影的区域变
化会不一样，以等腰直角三角形的计算，这时
需要把测量投影间的间距。就可以直接影响
到被测物体的高与深度。
那么对于倍数相对高点的话，Z方向的测
量是会运用依靠着光学镜头的高倍的景深来
运用从而减小这个物镜的特性。
将表面清楚的成像调镜头移到物体下表面
清楚成像。调高度，就是等于调节物
体的高度和深度。
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