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本文标题："超薄试样的切片技术与材料的配备特殊配置的显微镜"

超薄试样的切片技术与材料的配备特殊配置的显微镜

 
    如果想要研究聚合物的内部结构，我们就需要进行将
其制作成片状来进行观测，而且这样的薄片要求是很高
的，必须是那种超薄的，我们根据
切口的不同进行试样的拿取，
 
    这种试样的制备是需要专业的工具，一般是采用比较
薄的切片机，其试样的大小不能太多，不能超过100纳米，
最常用的值范围在20-50纳米，如果太厚的话，
就没有穿透能力，
 
    如果没有一定穿透能力，那么在图像存在重叠的情况，
就无法观测到清晰的图像，
 
     聚合物的切片是较精细的试样，一般是需要特殊配置
的显微镜进行的观测的，需要考虑的地方是比较多的，
无论是图像的质量，还是光线的强弱，这些都
是关键的成像效果。

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