产品分类
本文标题："干涉试样上的激光功率与图像采集的方法"
干涉试样上的激光功率与图像采集的方法环形耗尽激光波场STED，是有效的激发激光器，以增加分辨率超出的衍射极限，在最好的情况下，可以接近（20纳米）的横向尺寸，缩小了的点扩散函数。
锐化的焦斑通过点扩散函数的工程，相当于扩大空间频率通带的显微镜。
为了获得一个完整的图像，所产生的受激发射损耗激光器，中央零是光栅扫描的整个试样中，类似共焦显微镜的行动。
其中受激发射损耗显微镜的好处是，增加了有效的分辨率，完全取决于实验结构和施加在试样上的激光功率。
此外，图像被记录，作为光束扫描沿的试样，不需要额外的处理，图像采集的时间可以接近速度的任何激光扫描共聚焦显微镜。
随着STED的有效分辨率是成正比的损耗激光的功率，有可能导致快速漂白，破坏了探头的非常高的激光功率。
后一篇文章：数字图像的纵横比是怎么计算的? »
前一篇文章：« 激光源的干扰图案和光束的关系
tags:激光器,试样,工具显微镜,测量显微镜,
干涉试样上的激光功率与图像采集的方法,工具显微镜,测量显微镜现货供应
本页地址：http://www.xwjol.com/wz/303.html转载注明
本站地址：http://www.xwjol.com/