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本文标题："受激发射损耗显微镜的基本概念"
受激发射损耗显微镜的基本概念受激发射损耗的概念，利用并通过操纵激发和枯竭激光器的相位、脉冲宽度和强度，明显的修改了激发点扩散函数的形状。
虽然这两个激光器保持了衍射的限制，其光束也通过显微镜的光学火车，修改了STED的脉冲，由成倍增长朝向外围的强度与在焦点的中心，设有一个零强度节点的相位调制器。
这种配置使产生了一个环形包围了中央的焦点（点扩散函数）用的激光束。只有在焦点（节点）的准确中心受激发射损耗等于零的光束的强度。
受激发射损耗的束脉冲的波长和持续时间被选择，以配合的最大发射和饱和磁化强度，分别调查了荧光团。
荧光团失活发生在整个体积，除了在中心焦点的焦点。在高消耗功率的激光受激发射损耗（通常每平方厘米超过250兆瓦），荧光基团几乎是在瞬间驱动到基态的受激发射。
这样就大大减少了激光的功率，能够形成一个非荧光的状态，通过一些其他机制，包括驱动所述荧光基团成的亚稳的三重态，形成电荷转移态或光控。
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