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本文标题："全息电子技术的直接采样，测量显微镜的全息图像"

全息电子技术的直接采样，测量显微镜的全息图像

 
   电子直接的采样我们描述了一系列实验，以作为在电子全息摄影获
得的载波的频率，信号测试在一个新的采样根据波前的重构决定。
   两叶变换的配置和数字全息显微镜的菲涅耳区的形式进行了描述。
   全息图与无相移元件的直接粗采样可用于获得波前的
重构，与所需样品的减少了比率的数量，
   其中载波的频率在信号的带宽范围。在晶体发展的一个固
定光栅的过程中有全息相移的测量，
   我们报告了什么被认为是第一个直接测量，期间的白光照明对
于固定光栅中掺杂的晶体发展了光栅相移的进化。
   稳定化的全息记录被证明是这样的测量也是必不可少的。实验
数据与理论值吻合的较好，并允许了被分析的样品有关的材料参数的计算。
   对于研究的结果需要理解在全息固定样品氧化的有利行为与极化相关。
 

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