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本文标题："纳米聚焦显微镜配置了径向的偏振光技术"
纳米聚焦显微镜配置了径向的偏振光技术
纳米聚焦显微镜有径向的偏振光，而电介质的
检测是需要金属介电的探针进行测试的，
纳米聚焦在电介质的检测包括了对锥形的纤维
进行的研究，对于金属无孔径的涂层相关的观测，
而电介质形成的尖端属性可以被调谐在很宽的
光谱范围内，而包层的介电常数的选择可能会减少，
从2μM到先端的直径为5纳米的二氧化硅的芯
上覆盖着一层银的为5nm的介电层。
径向偏振的高斯光束是在光纤内的照明，然后
利用导向在有限差分时域的仿真效果，我们还发
现了最大波长的增强，折射率的增加会发
生越来越长的波长。
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