产品分类
本文标题："折射率显微镜的微腔模式检测不同材料结构"
折射率显微镜的微腔模式检测不同材料结构
对于异质结构的单个纳米线的微光检测，需
要发光的光谱观察到微腔的模式，
我们的显微镜实验报告的纳米线具有非常明
显的结果，如果可以使用选择性的区域进行观测，
那么金属有机的气相外延在衬底的异质结构
的制造。微腔的模式观察在纳米线上分散到硅衬底上，
而不是在自由情况下观察到的纳米线的方面。我
们还发现了对计算出的群折射率仅考虑了材料的色散，
实验确定的值是一致的，尽管这种方法是用
一些专业的方法计算出，那么组的折射率可
以同时考虑材料的色散，
波导的色散同意了实验测定值的良好效果。我
们还发现微腔的模式不可观察与小于约180纳米的距离，
这主要是由于其弱光束的光场引起的，那么反
射率的差是在最后面宽度的纳米线。
后一篇文章：光纤显微镜需要配置自适应的调制光 »
前一篇文章：« 反射显微镜的测量有专业的空间分辨率
tags:纳米线,微光检测,工具显微镜,测量显微镜,
折射率显微镜的微腔模式检测不同材料结构,工具显微镜,测量显微镜现货供应
本页地址：http://www.xwjol.com/wz/912.html转载注明
本站地址：http://www.xwjol.com/