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本文标题："变种颗粒的表面检测利用显微镜进行测试研究"
变种颗粒的表面检测利用显微镜进行测试研究
我们对于研究变化的相位在对比显微镜，我
们描述的设计和测试表现在相衬显微镜研
究的一个变种的颗粒的检测。
样品的检测被通过环形光阑的白色光源进行
测试，这是投影在物镜的入射光瞳在返
回路径中的衍射光，
样品的测试出现是在借助内部物镜的孔径进
行检测，从光到附近的目标边缘的检测，
对于环形区域的返回分离可以参考光束分离
的光，这也是相对相移的技术，然后组合创
造的样品表面是在CCD的相机干涉。这也
是相当简单的使用方法，
这个系统是作为一个传统的明场和暗场显微镜
进行观测，但其最有用的应用是作为相衬显微镜的
振幅比和相位可调的测试和参考光束之间的研究。
所以说不断调整的参考光束有相位的能力，这
也使用了相的定量测量的样本使用入射光束进行研究。
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