本文标题："线性偏差在低光成像中的应用"

线性偏差在低光成像中的应用

线性偏差在低光照尤为重要，定量的应用程序和执行的平场校正。线性测量在不同的制造商，可能会报告从理想的线性条件符合或偏差百分比。

在低光成像的应用中，荧光信号比激发光弱一百万倍。信号被进一步限制强度的需要减少光漂白和光毒性。

当量化生物荧光成像的光子特性的小数目，这个过程是光子饥饿，也受到列举量子力学的事件相关的统计不确定性。

线性测量的是不确定性，增加量与强度的平方根更复杂。这意味着统计误差是图像最暗的地区最大的。操纵数据使用卷积算法，往往是在光子有限的成像应用，也是解决这个问题的唯一的方法。

后一篇文章：反射光系统有什么作用？反射光的照明装置 »
前一篇文章：« 反射光与图像之间的联系

tags:线性偏差,低光成像,工具显微镜,测量显微镜,

线性偏差在低光成像中的应用,工具显微镜,测量显微镜现货供应

本页地址：http://www.xwjol.com/wz/259.html转载注明
本站地址：http://www.xwjol.com/

资讯中心：