产品分类
本文标题：" 光学性质的反射率差谱的测定，反射显微镜的光学性质"
光学性质的反射率差谱的测定，反射显微镜的光学性质
光学性质的反射率差谱的测定通过了基本简单的间隙，半导体压电的光学性质，
反射率的差谱测定已被用于反射差异的光谱（RDS），
为了确定上述基本间隙半导体的压电光系数，反射显微镜的性质是最新的配置，
RDS技术中的高灵敏度允许了这些系数的测定与单轴应力的使用。
通过测量样品的立方晶体沿和晶向的压电光学系数，
单轴应力下的系统，反射显微镜的研究中分别进行了测定。
显微镜的测量结果与先前的RDS技术，已经成功地应用于确定光谱的依赖性，
半导体的系统是以支持所需的偏振测量技术是殴一定的回应力。
而在显微镜的配置中RDS是以椭偏仪的表面覆盖层分析的，仪器中存在更多的不敏感系数。
后一篇文章： 显微镜数据的多通道视频，超分辨率显微镜的妙用 »
前一篇文章：« 有关光学仪器的最新研究，生物显微镜的创新研究
tags:光学性质,反射率,工具显微镜,测量显微镜,
光学性质的反射率差谱的测定，反射显微镜的光学性质,工具显微镜,测量显微镜现货供应
本页地址：http://www.xwjol.com/wz/772.html转载注明
本站地址：http://www.xwjol.com/