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本文标题：" 双光子显微术的基本成像，双光子显微镜的成像"

 双光子显微术的基本成像，双光子显微镜的成像

 
   双光子显微术的基本成像中，我们通过试样已经分析了双光子显微术， 一般散
射样品的最大成像深度取决于样品的性质和成像系统。
   我们在试样的检测中还发现了不同的情况，例如随着数值孔径的观察和染
色的不均匀性，这可能会降低激励的脉冲持续时间，
   散射的各向异性因子中，显微镜成像深度的增加最终的表
现是在有限的情况下实现的，
   由近地表的荧光使用特殊的检测策略，这样的改动
也许会略有改善，这种情况可能会成为深度的限制。
   对于双槽与双深度的光栅耦合器的光导中，双槽引入了两个深
度的介质光栅结构，需要高效的光耦合到光导。
   我们的计算，优化于光栅的耦合与单色的TE或TM偏振光束有
近100%的效率。一个非偏振光束的效率可以达到90%。
   在所有的情况下达到的最高耦合效率的要求中，光栅材料的折射
率大于1.7。而且光耦合器的制造公差也进行了分析。

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