本文标题："利用光谱的偏半波双折射，生物显微镜对厚透明度的检测"

利用光谱的偏半波双折射，生物显微镜对厚透明度的检测

单轴的各向异性基板厚度测量方法，

调查的半波晶片是双折射的测量方式，

基于单轴晶片可从一个记录通过使用一个标准的相位调制，

光谱椭偏仪受干涉条纹的影响，

单轴晶片的双折射的计算方法是记录在振荡强度的极值点。

其形式主义的开发将双折射率随波长的变化作为校正因子。

校正因子介绍了高估的双折射厚度，

单轴的蓝宝石衬底有以前类似的研究，观测显微镜上的晶片，

双折射是由于偏振依赖intraconduction增强的衍生物的检测。

此外，其特征在于晶圆的表明，该方法可以用在4H-SiC和类似的单轴，较高的带隙是半导体晶片厚度的映射。

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