光学仪器
    产品分类
本文标题："干涉仪中的光纤如何调制，金属薄膜的检测要求"

干涉仪中的光纤如何调制，金属薄膜的检测要求

 
      同轴中的模态干涉仪是基于长周期的光纤光
栅，包括了双包层的光纤调制，
      其实这对同轴干涉仪是动态的调制，其调
制报告的基础上编写了双包层中的两个光
纤级联接上长周期的光栅。
      该干涉仪可以研究压电陶瓷的绵延，光栅是
在几十kHz的调制，显微镜输出的光强
度调制大概为97％的效率。
      该器件的工作是在1530nm处，也有超过50nm的
带宽为插入损耗为0.11纳米/℃的温度漂移，
      对于薄铝和薄膜上淀积技术的测试，主要是
在厚度折射率和消光系数的依赖，
      我们通过测试还表明了薄的金属薄膜的光
学性质取决于膜的厚度以及沉积技术。
      对于几种厚度的电子束的铝薄膜进行测定，并使
用椭偏仪的折射率和消光系数确定。
      此外，该折射率技术和原子层沉积的检测都是利
用消光的系数与蒸发的样品进行的比较。
 
 

后一篇文章：超宽频带的频谱形状需要调整，低折射率显微镜 »
前一篇文章：« 医学科研中的重要工具--现代化的显微镜


tags:金属,薄膜,检测,工具显微镜,测量显微镜,

干涉仪中的光纤如何调制，金属薄膜的检测要求,工具显微镜,测量显微镜现货供应


本页地址：http://www.xwjol.com/wz/861.html转载注明
本站地址：http://www.xwjol.com/

友情链接：

上海光学仪器厂北京分公司经营理念:"-最优异的品质 -最诚信的价格-最完善的售后" -

金相显微镜,工具显微镜,测量显微镜,小型测量显微镜

版权申明：Copyright2012- 2015 禁止拷贝复制本站的文字和图片,本站所有版权由上海光学仪器一厂所有-
测量显微镜-上海光学仪器一厂-本站地址http://www.xwjol.com