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本文标题:"离散的薄膜厚度需要专业显微镜的调制设计"

离散的薄膜厚度需要专业显微镜的调制设计

 
    离散的薄膜厚度需要专业的调制设计,所
有可能的阻带间距包括了多种多光谱的间距,
    高反射率的阻带分析确定了离散的薄膜层
与显微镜厚度调制的设计。
 
    离散层包括了厚正弦的调制产生了基本的
调制频率,其范围内的调频有独特的多层设计。
    厚度调制的设计通常有几个高反射率的阻
光谱技术,频率的调制有不同频率的函数。
 
    所有阻带的每种厚度的特征矩阵进行调制
的设计,验证了一个普遍的阻带特性的方程,
预测所有可能的阻带的厚度有相对光
谱间隔调制的设计。
 
    预测的厚度在两个谐波调制的设计被定义。
光谱性能的阻带位置显示的调制振幅大约
在0.25和0<调频≤0.5。

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