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本文标题："三维显微镜测量光束中相位调制的方法"
三维显微镜测量光束中相位调制的方法
一种光纤折射率的分布在微分干涉显微镜，
透射光的接触包括了无损的测量，
一种新颖的透射光的微分干涉对比系统用
于折射率的分布有无损检测的光学纤维。
通过该系统的测量光束在相位调制的方法
可以利用一个分析器，和一个纤维相的分布，
这是由不同的干扰模式计算得到的，测量
的原理和结构在一些典型的应用证明这个系统。
实验介绍了渐变折射率的光纤测量，实
验的结果和理论的分析表明了该系统可以
利用指数高的分辨率，
测量光纤的折射率有足够的测量精度，该系
统由于其共同的路径设计，具有很强的克服
环境的干扰能力。
此外，我们可以使用该系统的测量，沿纤维
轴的和获取纤维的三维图像。
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