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本文标题："低相干检测中的干涉微分显微镜的相位测量"
低相干检测中的干涉微分显微镜的相位测量
低相干的检测中包括了干涉微分的相位测量，
定量的相位测量值可以通过低相干的干涉测量法，
光学相干的断层扫描可能会被限制，我们可
以通过公知的值2π进行计算，路径的长度差小，
我们提出了克服这种不确定性的方法。也
介绍了干涉仪的参考和样品之间轻微的色散，
不平衡的情况导致了光源光谱的短期和长期
的波长干涉信号中分离出来的。
这将导致相位斜率中信号内的变化。两个
邻的采样光束分量之间有相位差的功能，
通过从相位敏感的干涉信号记录并获得其相
位函数的减法计算。由于色散效应时的相位差
是随干涉信号而变化。所以说该相位
差的斜率正比于光程差。
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