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本文标题："电子检测器在显微镜中的速度 "
电子检测器在显微镜中的速度 所有的电子检测器中，信号产生的光子撞击，都是受探测器表面上的活性基片材料影响的，曝光时间和照明强度的确定可用于图像形成时产生的光子数量。光电子中光子转换效率是由所述检测器表面的影响，可以感测的光子被称为CCD的填充因子，也是结合量子效率的衬底管。量子效率被定义为成功转换的光子的总数。此外，检测器材料不可避免地生成了大量的杂散电子，被称为暗电流。长的曝光时间是必要的，冷却该图像传感器中，经常-20和-80摄氏度范围内，可抑制暗电流。 检测器被收集后，信号和暗电流的电子会被读出一个模拟数字转换器。读取的电子输出的查询结果，无论是从热产生的电子或由小的定时误差，并且在工件中也是直接可读出速度的噪声。在一起时暗电流和读出噪声构成的图像，会记录处理原则噪声源，超越光子计数的统计特性，称为散粒噪声。 许多数字照相机的驱动程序软件，是允许选择的读出放大器的速度，通常以MHz为单位指定（兆赫）或像素每秒。选择更快的读出帧速率的结果，在较低的信号噪声比中。同样在共聚焦显微镜中，电子束扫描速度，相对光电倍增器的采样时间，通常可以被改变，可增加被读出到转换器的信号。
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